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X-RAY XDL210熒光測厚儀
X-RAY XDL210熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀 FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
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菲希爾X-RAY熒光測厚儀各種材料分析儀器
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進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210 XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量
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